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| 品牌Bruker Alicona | 有效期至长期有效 | 最后更新2022-10-29 14:27 |
| 扫描方式3D光学非接触式 | 测量技术垂直焦点探测 真实3D | 颜色灰 |
| 浏览次数1094 |
Bruker Alicona μCMM纳米级光学三坐标检测仪
Alicona µCMM 纳米级光学三坐标量测设备
Alicona µCMM是第 一台纯光学CMM机床，用于高精度3D测量极小的公差。用户结合了触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势，仅使用一个传感器即可测量组件的尺寸，位置，形状和粗糙度。Alicona光学CMM可以提供相对于彼此的多个光学3D测量结果的高几何精度，从而可以对大型组件上的小表面细节进行测量，并可以精确地确定这些单独的测量结果相对于彼此的位置。
可测量表面的范围包括所有常见的工业材料和復合材料，例如塑料，PCD，CFRP，陶瓷，铬，硅。一键式解决方案实现了简单的操作，自动化和人体工程学控制元素，例如专门设计的控制器。带有直线驱动器的空气轴承轴可实现无磨损使用以及高精度，快速的测量。
直观的可用性，专为多个用户而设计
可测量表面的光谱在很大程度上与材料无关，包括从哑光到抛光或镜面反射的组件，该行业通常使用的所有材料和復合材料。
密集的非接触式且与材料无关的测量
Alicona 3D测量系统提供了表面功能以及将坐标测量系统集成到一个系统中的功能。结果，您的质量保证将变得更具成本效益，更易于执行并更有效地交付结果。
无磨损高效使用
所有组件，包括运动轴，均无接触运行。空气轴承线性驱动轴可实现无磨损运行以及高精度，快速测量。这使μCMM成为生产中永 久使用的理想选择。
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