纳米级光学三坐标检测仪

Alicona µCMM 纳米级光学三坐标量测设备
Alicona µCMM是第 一台纯光学CMM机床，用于高精度3D测量极小的公差。用户结合了触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势，仅使用一个传感器即可测量组件的尺寸，位置，形状和粗糙度。Alicona光学CMM可以提供相对于彼此的多个光学3D测量结果的高几何精度，从而可以对大型组件上的小表面细节进行测量，并可以精确地确定这些单独的测量结果相对于彼此的位置。
可测量表面的范围包括所有常见的工业材料和復合材料，例如塑料，PCD，CFRP，陶瓷，铬，硅。一键式解决方案实现了简单的操作，自动化和人体工程学控制元素，例如专门设计的控制器。带有直线驱动器的空气轴承轴可实现无磨损使用以及高精度，快速的测量。