蔡司工业CT ZEISS METROTOM 1500

更好的影像质量
以高分辨率可发现到甚至很小的细节。 直径为15cm的物体能以50μm的体素大小进行重建。

加快扫描速度
探测器的不同操作模式可以大大减少扫描时间，在可相比的体素尺寸下，最 高可减少75％。

聪明的结构设计
占地面积仅为6.7平方米，并且舱门设计巧妙，可在测量实验室的狭小空间内灵活安装。

可检测更大型零件
为了在测量实验室中充分利用您的空间，我们在减小占地面积的同时扩展了测量体积。 在6.7m²的面积上测量和检查1500 mm高的零件，是市面上最 好的系统/零件体积比。

可靠的量测结果

定位系统可确保零件在整个视野中的高度精确运动，从而确保MPESD为4.5 + L / 50 µm（VDI / VDE 2630表1.3）。

蔡司工业CT-ZEISS METROTOM 1500 特性
量测范围的延展
高度分次扫描的体积合并 Volume Merge(VM)

第三代新款蔡司METROTOM 800&1500

面向未来的质量控制——今天
十二年来，蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司METROTOM 800& 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。