蔡司工业CT METROTOM800&1500穿透式无损检测_供应

ZEISS METROTOM 800&1500

基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）

利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精确性的高要求。

蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。

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第三代计算机断层扫描（CT）系统

蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。

500 W 开放式微聚焦X光管与 1.5 k 检测器结合使用可提供良好的影像质量，快速的采集和更高的分辨率。直径为 150 mm的对象可以以 100 µm体素大小进行重建。

由于反射式X光管的开放式结构，在正确维护的情况下可以实现无限的使用寿命。另外，所使用的灯管具有非常高的功率（500 W）。这可以实现快速扫描和低噪点影像，以及更密集材料的穿透

占地面积小，包括服务区域在内不到 8 平方米，紧凑的设计（机舱内包含控制单元）可在测量实验室的狭小空间内灵活安装。系统本身的占地面积小于 5.9 m²。

对于带有两个轴的定位系统，在 5.8 m² 系统区域内，适合该系统的零件最大高度为700 mm。

对于带有两个轴的定位系统，在 5.8 m² 系统区域内，适合该系统的零件最大高度为700 mm。

以高分辨率可发现到甚至很小的细节。直径为15cm的物体能以50μm的体素大小进行重建。

探测器的不同操作模式可以大大减少扫描时间，在可相比的体素尺寸下，最高可减少75％。

占地面积仅为6.7平方米，并且舱门设计巧妙，可在测量实验室的狭小空间内灵活安装。

为了在测量实验室中充分利用您的空间，我们在减小占地面积的同时扩展了测量体积。在6.7m²的面积上测量和检查1500 mm高的零件，是市面上最好的系统/零件体积比。

定位系统可确保零件在整个视野中的高度精确运动，从而确保MPESD为4.5 + L / 50 µm（VDI / VDE 2630表1.3）。